مقاومت پین – به – پین (دو سر نر) و ولتاژ سرکوب جهش تست دیود حفاظتی

مقاومت پین – به – پین (دو سر نر) و ولتاژ سرکوب جهش (Clampdown Voltage) تست دیود حفاظتی، یا PTRR/CVPD، یک گزینه تست ایده‌آل برای قطعات پیچیده با تعداد بالای پین است که برای تنظیمات آنها برای تست عملکرد می‌تواند به طور بازدارنده‌ای طولانی و گران باشد.

  • تنظیم سریع و زمان برنامه نویسی
  • زمان چرخه (سیکل) تست سریع
  • قیمت پایین
  • درجه بالای قابلیت اطمینان

بسیار توصیه می‌شود که شامل آنالیز جداسازی کپسول باشد، زیرا در برابر چنین شرایطی، به تضمین کار می‌افزاید. همچنین بهتر است از یک  نمونه طلایی برای مقایسه‌ی اندازه‌گیری‌ها با دستگاه مشکوک استفاده شود. آی‌سی‌های (ICs) تقلبی با پیکربندی قالب و Pin-outs مشابه، اما با کارکرد متفاوت، می‌توانند در تست PTPR/CVPD قبول شوند اما جداسازی کپسول و مقایسه با نمونه طلایی این امکان را از میان می‌برد.

پروفایل کامل تست شامل موارد زیر است:

  • تست مقاومت pin – to – pin
  • ولتاژ Clamp-down (سرکوب جهش) دیودهای حفاظتی
  • آنالیز جداسازی کپسول
  • مقایسه با نمونه طلایی

سیستم تست قطعه آزمون برای آزمایشات CVPD و PTPR موجب تسهیل شمارش پین‌ها تا 512 می‌شود، با سطح بالای دقت در سیستم تست خودکار (ATE) با صد در صد ذخیره و فراخوان داده همراه است. میزان موفقیت برنامه ما (اپلیکیشن) با این تست، در ترکیب با آنالیز جداسازی کپسول، بیش از 99٪ است.

دلیل شماره یک خرابی قطعات و اجزاء، اتصالات باز و کوتاه (Opens and Shorts) است که به دلیل اضافه ولتاژ و آسیب‌دیدگی سخت‌افزار ایجاد می‌شود. تست PTPR/CVPD آن را تشخیص می‌دهد.

بیشتر نیمه‌هادی‌ها (نیمه رسانا)، به ویژه IC های دیجیتال که ورودی‌ها در برابر آسیب‌های ناشی از ولتاژ بالا بسیار آسیب‌پذیر هستند، دیودهای جهشی (که ولتاژ مدار را به سطح معینی می‌رسانند) (clamping diods) دارند. دیودهای جهشی برای حفاظت از مدار IC در برابر تخلیه الکترواستاتیک (ESD)، حالت‌های گذرا (transients)، اسپایک‌های ولتاژی (نوسانات شدید و لحظه‌ای ولتاژ)، و دلایل دیگر اضافه ولتاژ است. این دیودها با دور کردن جریان ناخواسته از مدار اصلی، از آسیب به IC جلوگیری می‌کنند. ما وضعیت قطعه را با تست دیودهای حفاظتی آن تعیین می‌کنیم.

تست دیود حفاظت در برابر ولتاژ Clamp-down (سرکوب جهش) شامل موارد زیر است:

  • استمرار (بازشدگی و کوتاه شدگی پین) (Pin Opens & Shorts)
  • دیودهای محافظ آسیب دیده
  • ناهماهنگی و عدم تجانس قاب Dice/Lead Frame
  • آسیب مدار داخلی

تست مقاومت پین به پین (PTPR) از تست VCPD پشتیبانی می‌کند. پین‌های سیگنال مجاور، از جمله پین‌های عرضه (supply pins) نباید با پین دیگری کوتاه شود، مگر اینکه ذکر شده باشد. همه پین‌های زمینی باید کوتاه شود، مگر اینکه در مشخصات دستگاه به مقاومت مشخصی بین آنها اشاره شده باشد. با استفاده از این معیارها، CVPD و PTPR به طور موثری می‌توانند یک die متفاوت با دیودهای مختلف و جاگیری پین زمینی، متفاوت از یک واحد معتبر را کشف کنند و IC های تقلبی را شناسایی کنند.

تست مقاومت پین به پین (PTPR):

  • کوتاه شدگی (shorts) پین‌های مجاور
  • بازشدگی (Opens) بین پین‌های زمین
  • مقاومت بین دو پین اندازه‌گیری می‌شود
  • علت شماره یک خرابی قطعات شناسایی می‌شود.

نکات: تست PTPR/CVPD یک تست بلوک عملکردی یا پارامتری نیست. اگر قطعات خراب شوند، آنها هم کار نمی‌کنند. اگر تست را با موفقیت پشت سر بگذرانند، تضمینی نیست که هنگام استفاده درست کار کنند، بنابراین توصیه می‌شود که آن را به عنوان مثال همراه با EVI و Decap استفاده کنید. این روش گامی بین مسیریابی منحنی ساده و تست عملکردی یا پارامتری در دستگاههای پیچیده‌ای است که احتمالاً زمان تنظیم یا آماده‌سازی (set-up time) و هزینه آنها عاملی بازدارنده باشد، و این تست همه پین‌ها را تحت پوشش قرار می‌دهد، در حالی‌که CT فقط تا محدودی از پین‌ها را مورد هدف قرار می‌دهد.